開(kāi)放共享實(shí)驗(yàn)室
100多種儀器用于測(cè)試
SI/PI/協(xié)會(huì)測(cè)試夾具/SI/PI/高速信號(hào)驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室
接口一致性測(cè)試
PCIE,、DDR、SATA,、HDMI,、MIPI,、DP、USB,、以太網(wǎng),、LVDS、DVI
幾十種高速接口一致性測(cè)試
SI/PI信號(hào)完整性
eMMC,、Flash,、GMSL、UFS,、FPD-Link,、GMII、I2C,、SPI,、V-by-One,、紋波、噪聲
板內(nèi)各種信號(hào)質(zhì)量完整性測(cè)試
高速信號(hào)仿真
PCIE,、DDR,、SATA、HDMI,、MIPI,、DP、USB,、以太網(wǎng),、LVDS、DVI
為客戶(hù)提供各種高速信號(hào)仿真
新聞動(dòng)態(tài)/
NEWS
汽車(chē)以太網(wǎng)眼圖測(cè)試的基本原理,、測(cè)試方法和實(shí)際應(yīng)用案例
2023-12-07 15:50:09
隨著汽車(chē)電子電氣架構(gòu)的不斷演進(jìn),，以太網(wǎng)技術(shù)已成為車(chē)載通信和數(shù)據(jù)交換的重要手段。為了確保汽車(chē)以太網(wǎng)通信的可靠性和穩(wěn)定性,，進(jìn)行眼圖測(cè)試至關(guān)重要,。本文將介紹汽車(chē)以太網(wǎng)眼圖測(cè)試的基本原理、測(cè)試方法和實(shí)際應(yīng)用案例,。一,、汽車(chē)以太網(wǎng)眼圖測(cè)試基本原理眼圖（Eye Diagram）是一種用于評(píng)估數(shù)字信號(hào)質(zhì)量的圖形表示，可以反映數(shù)
淼森波硬件開(kāi)放共享實(shí)驗(yàn)室-新時(shí)代/新趨勢(shì)/新機(jī)會(huì)
2023-10-04 17:44:13
淼森波硬件開(kāi)放共享實(shí)驗(yàn)室-新時(shí)代/新趨勢(shì)/新機(jī)會(huì)淼森波實(shí)驗(yàn)室介紹：硬件共享測(cè)試實(shí)驗(yàn)室是一個(gè)提供硬件設(shè)備資源和測(cè)試環(huán)境的共享平臺(tái),，主要面向研發(fā)團(tuán)隊(duì),、創(chuàng)業(yè)公司以及個(gè)人開(kāi)發(fā)者。它的目的是幫助各類(lèi)項(xiàng)目在開(kāi)發(fā)和測(cè)試過(guò)程中節(jié)省成本,，提高效率,。在硬件共享測(cè)試實(shí)驗(yàn)室中，用戶(hù)可以租借各種硬件設(shè)備,，包括但不限于
我司專(zhuān)注于高速信號(hào)SI/PI信號(hào)仿真,、信號(hào)高速測(cè)試服務(wù)。 作為高速SI/PI測(cè)試實(shí)驗(yàn)室，淼森波實(shí)驗(yàn)室聚焦于多領(lǐng)域的高速設(shè)計(jì)與仿真,，緊貼行業(yè)前沿技術(shù)發(fā)展,，深入客戶(hù)需求， 核心產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于通訊設(shè)備,、醫(yī)療器械,、數(shù)碼電子、工業(yè)控制,、計(jì)算機(jī)、半導(dǎo)體,、軌道交通,、新能源整車(chē)域控等多領(lǐng)域。
技術(shù)文章/
Technical articles
MIPI接口閃屏怎么解決,？Debug 案例
2024-11-07 16:12:39
MIPI接口閃屏怎么解決,？Debug 案例—MISENBO—MIPI接口閃屏如何解決 在現(xiàn)代移動(dòng)設(shè)備中，MIPI（移動(dòng)行業(yè)處理器接口）因其高速串行數(shù)據(jù)傳輸能力被廣泛應(yīng)用于顯示屏和攝像頭模塊,。然而,，用戶(hù)在使用這些設(shè)備時(shí)可能會(huì)遇到閃屏現(xiàn)象，即圖像頻繁閃爍或不穩(wěn)定,。本文將深入探討MIPI接口閃屏的成因及解決方案,。01
硬件工程師設(shè)計(jì)基礎(chǔ)“100例” 收藏
2024-11-07 11:04:18
硬件工程師設(shè)計(jì)基礎(chǔ)“100例”1請(qǐng)列舉您知道的電阻、電容,、電感品牌（最好包括國(guó)內(nèi),、國(guó)外品牌）。電阻：美國(guó)：AVX,、VISHAY威世日本：KOA興亞,、Kyocera京瓷、muRata村田,、Panasonic松下,、ROHM羅姆、susumu,、TDK中國(guó)臺(tái)灣：LIZ麗智,、PHYCOM飛元、RALEC旺詮,、
DDR3信號(hào)速率問(wèn)題詳解 Degub5
2024-11-07 10:21:32
DDR3信號(hào)速率問(wèn)題詳解 Degub5MISENBO實(shí)驗(yàn)室DDR3信號(hào)速率上不來(lái)WHY,？ DDR作為硬件的重要組成部分，內(nèi)存的性能直接影響著整個(gè)系統(tǒng)的運(yùn)行速度,。DDR3內(nèi)存憑借其較高的傳輸速率和穩(wěn)定性,，受到了眾多玩家的喜愛(ài)。然而，在實(shí)際研發(fā)過(guò)程中,，不少用戶(hù)發(fā)現(xiàn)DDR3信號(hào)速率上不來(lái),，導(dǎo)致系統(tǒng)性能受限。本文將為您揭秘D
1000M以太網(wǎng)信號(hào)測(cè)試不過(guò),，咋辦,？
2024-10-16 11:42:46
1000M以太網(wǎng)信號(hào)測(cè)試不過(guò)詳細(xì)解決方案 1000M以太網(wǎng)物理層一致性測(cè)試中模板測(cè)試不過(guò)，通常表明被測(cè)試設(shè)備（DUT）在物理層上未能滿(mǎn)足IEEE 802.3標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定的要求,。物理層是OSI模型的第一層,，主要負(fù)責(zé)在介質(zhì)上發(fā)送和接收原始比特流。要解決此類(lèi)問(wèn)題,，通常需要從以下幾個(gè)方面去入手,。01為什么要進(jìn)行模板測(cè)試
USB3.0 RX 一致性測(cè)試，不能進(jìn)入測(cè)試模式,，怎么辦,？
2024-10-16 11:09:55
USB3.0 RX 一致性測(cè)試，不能進(jìn)入測(cè)試模式,，怎么辦,？ Part 01.什么是USB3.0RX一致性測(cè)試？ USB 3.0 RX 一致性測(cè)試是對(duì) USB 3.0 （也稱(chēng)為SuperSpeed USB）接收端（RX）的性能進(jìn)行驗(yàn)證的一種測(cè)試,。它主要用于確保 USB 3.0 設(shè)備的接收端能夠正確接收和處理來(lái)自發(fā)送端的數(shù)據(jù),，符合 USB
LVDS閃屏問(wèn)題怎么解決？
2024-10-16 10:42:14
LVDS閃屏問(wèn)題怎么解決,？LVDS（低電壓差分信號(hào)）閃屏問(wèn)題通常指的是顯示屏在使用過(guò)程中出現(xiàn)閃爍或不穩(wěn)定的現(xiàn)象,。01｜LVDS閃屏的原因信號(hào)傳輸速率不匹配：發(fā)送和接收端速率不同導(dǎo)致數(shù)據(jù)傳輸不穩(wěn)定。信號(hào)完整性問(wèn)題：信號(hào)受干擾或衰減,，影響圖像質(zhì)量,。電源穩(wěn)定性差：電源供應(yīng)不穩(wěn)定，導(dǎo)致組件工作異常,。時(shí)鐘信號(hào)不穩(wěn)定：